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KAIST, 휴먼테크 논문대상 휩쓸어..
전기 및 전자공학 전공은 최다 수상학과상 수상 KAIST(총장 로버트 러플린)가 지난 달 18일 열린 제 11회 휴먼테크 논문대상 시상식에서 개인상 부문의 금상, 은상, 동상 등을 휩쓸고, 전기및전자공학전공은 특별상 부문에서 대학부문 최다 수상학과상을 차지하는 영예를 안았다. 총 응모건수 810편 중 110편의 수상작이 선정된 가운데, 부문별로는 ▶금상 8편 ▶은상 26편 ▶동상 35편 ▶장려상 41편이 뽑혔다. 이 중 KAIST는 최고의 영예인 대학원 부문 금상 6편 중 4편을 비롯하여, 은상 15편 중 5편, 동상 22편 중 9편, 장려상 18편 중 10편이 수상작에 올랐다. 대학원 부문 수상작 총 61편 중 절반에 가까운 28편이 KAIST에서 나온 것이다. 학부부문에서도 동상 6편 중 2편, 장려상 6편 중 1편 등 KAIST는 총 31편이 수상작에 올랐다. 특히 KAIST 전자전산학과 전기및전자공학 전공은 이번 시상식에서 금상 3편, 은상 4편, 동상 3편 등을 수상하며 KAIST 전산학전공과 서울대 전기컴퓨터공학과 등을 제치고 최다 논문상을 수상, 최다 수상학과의 영예를 안았다. 또한 KAIST 전기및전자공학전공은 대학원 부문 최고상인 금상 6편의 절반인 3편을 차지하는 성과를 보여 더욱 주목 받고 있다. KAIST 전기및전자공학전공 박사과정 강동구(지도교수 나종범)씨는 가상 대장내시경에서 가시면적 최대화를 위한 새로운 경로 생성 알고리즘 이라는 제목의 논문으로 금상을 수상했고, 역시 박사과정 장성일(지도교수 윤준보), 전진완(지도교수 임굉수)씨도 각각 새로운 3차원 디퓨져 리소그래피를 이용한 고품질의 다용도 마이크로렌즈 어레이, 프로젝션 디스플레이를 위한 엇물린 외팔보를 이용하는 정진 디지털 마이크로미러 소자 라는 제목의 논문에서 뛰어난 성과를 인정받아 금상을 수상했다. 이 밖에도 기계공학과 박사과정 박상후(지도교수 양동열)씨 외 3인(임태우, 이성구, 이신욱)의 공동 논문 차세대 3차원 나노/마이크로 디바이스 제작을 위한 나노 스테레오리소그래피 공정개발에 관한 연구도 대학원부문 금상의 영예를 안았다. 올해로 11회째를 맞는 휴먼테크 논문대상은 국내 최대의 통신, 컴퓨터, 기계, 반도체 분야 논문상이다. 과학기술 발전의 주역이 될 과학도들의 연구의욕을 고취시키고 기술중시의 사회분위기 조성을 위해 1994년 삼성전자에서 제정했으며, 중앙일보와 교육인적자원부에서 후원하고 있다.
2005.03.01
조회수 21037
김승우 교수 - 정진기언론문화상 장려상 수상
과학기술연구부문 장려상 수상, 대상에는 서울대 황우석 교수 등이 수상 기계공학과 김승우 교수가 제22회 정진기 언론문화상 과학기술연구부문 장려상을 수상하였다. 김승우 교수는 반도체, 통신부품, LCD 디스플레이를 포함한 마이크로 일렉트로닉스 부품의 설계와 생산에 필요한 미세형상 3차원 측정기술을 개발한 공로를 인정받았다. 김승우 교수는 지난 십 수년간 반도체, 통신부품, LCD 디스플레이를 포함한 마이크로 일렉트로닉스 부품의 설계 및 생산에 필수적으로 요구되는 미세형상 삼차원 측정기술에 매진하여 새로운 우수한 측정기술을 개발함으로써 국내외적으로 뛰어난 연구성과를 보였다. 이와 더불어 개발된 핵심기술을 국내산업에 보급하기 위해 산학협동을 통해 관련 측정기술들을 상용화 함으로써 국내 측정기 산업 및 마이크로 일렉트로닉스 산업의 국제 경쟁력 제고에 큰 역할을 하였다. 또한 최근에는 국내에서 독자적으로 개발한 관련 기술을 세계적인 측정기기 회사인 ZYGO(주)에 기술이전계약을 함으로써 국내기술의 우수성을 입증하였을 뿐만 아니라 향후 국내기술 수출의 전기를 마련하였다. 그리고 향후 국내 정밀측정산업을 이끌어갈 우수한 석박사 인력을 양성함에 많은 공헌을 포함하여 관련 공학분야에서의 업적이 지대하다. 공적 내용 마이크로 일렉트로닉스 부품의 미세형상 삼차원 측정기술 개발 및 상용화 백색광주사간섭계 및 모아레의 새로운 미세 삼차원측정 원리를 이용하여 반도체, 통신부품, LCD 디스플레이를 포함한 마이크로 일렉트로닉스 부품의 미세형상 삼차원 측정기술을 1992년 이래 국내외적으로 선도적으로 연구하였으며, 국내외 저널에 24편의 논문을 발표하였고 11건의 국내외 특허를 출원하였음. 상기의 기반기술을 바탕으로 산학협동을 통하여 국내 최초의 측정 정밀도 0.1 nm의 광학식 미세형상 측정기(1997년), 세계 최초의 이중파장 모아레를 이용한 광학식 삼차원 형상 측정기(1998년), 납형상 삼차원 측정기(2001년), 반도체 최종 외관 검사기(2003년) 등을 국내기업을 통하여 상용화하여 국내 측정산업 및 마이크로 일렉트로닉스 산업의 기반 조성에 기여하였음. 국내에서 독자적으로 개발하고 출원한 백색광주사간섭계를 이용한 박막측정기술 관련 특허(US6,545,763B1)를 세계적인 전자측정기기 회사인 미국의 ZYGO㈜사에 기술이전 계약을 성사시킴으로써 국내기술의 우수성을 세계적으로 과시하였으며 본격적인 국내기술 수출의 전기를 마련하였음.
2004.07.21
조회수 18225
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