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국내 독자기술 해외수출
- KAIST 기계공학과 김승우교수 미국 ZYGO(주)에 기술이전 - KAIST 신기술창업지원단 기술이전교류센터(대덕밸리 TLO컨소시엄)는 국내독자 개발기술인 KAIST의 기계공학과 김승우(金承佑, 49) 교수의 “백색광주사간섭법을 이용한 투명한 박막층의 3차원 두께 형상 측정 및 굴절률 측정 방법 및 그 기록매체” (관련 특허 : 미국 US 6,545,763B1 “Method for measuring a thickness profile and a refractive index using white-light scanning interferometry and recording medium therefor")기술을 세계적인 전자측정기기 회사인 미국의 ZYGO(주)사에 기술이전 계약을 성사시켰다. 이 특허기술은 TFT-LCD Panel 생산공정의 검사장비로 사용하여, 여러층의 투명 박막을 가진 층별 형상 측정에 사용 가능한 기술이다. 기존의 비접촉 미세형상 혹은 박막두께 측정기에 비하여 월등한 경쟁력을 보유하고 있으며, 향후 이 분야의 전세계 시장은 연간 수조원에 이를 것으로 예상되며, KAIST는 매출액의 2.5%를 경상기술료로 지급받게 된다. 이번 기술이전의 성과는 기술이전교류센터의 김희태 박사가 9개월간의 협상을 통해서 이루어진 결과로 다음과 같은 두가지 점에서 그 의미가 크다고 할 수 있다. 첫째, 기술적 측면에서 국내에서 독자로 개발된 기술이 해외 선진국인 미국에 수출 되었다는 점에서 국내기술의 정도가 선진국과 동일한 선상 내지는 그 위에 있음을 시사하고 있다. 둘째, 국내기술이전 전문가에 의하여, 해외의 유수한 기업과 독자적인 협상 및 노력으로 기술이전을 성사시켰다는 점이다. 그동안 대학이나 정부출연연구소의 연구결과가 해외에 기술수출되는 경우는 극소수였으며, 그 경우도 해외와 공동 연구결과의 지분이전 및 소프트웨어기술을 이전하는 정도였다. 이번 해외기술 이전은 국내 공공기관내의 기술이전전문센터가 과학기술부의 지원(2002년)에 의하여 전국 권역별 5개 거점기관을 설립된 후 처음으로 발생한 것으로 향후 공공기술 활용의 새로운 돌파구로 기술수출을 이용할 수 있으며, 부메랑효과에 의하여 국내기업에서도 첨단기술을 활용하는 기회를 가져다 줄 것으로 기대된다. * 내용문의 : KAIST 기술이전교류센터 김희태박사(042-869-4794, 016-412-8321)
2004.02.28
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